應(yīng)用光電直讀光譜分析方法測(cè)定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，總是存在著一定的誤差和偏差。這里所講的誤差是指每次測(cè)量的數(shù)值與真值之間的差值，而偏差是指每次測(cè)得的數(shù)值與多次測(cè)量平均值之差。根據(jù)誤差的性質(zhì)及其產(chǎn)生原因，誤差主要分以下幾種：系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過(guò)失誤差。 系統(tǒng)誤差是指在一定試驗(yàn)條件下由某個(gè)或某些因素按照某一確定的規(guī)律起作用而形成誤差，它決定了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度，系統(tǒng)誤差的大小和符號(hào)在同一試驗(yàn)中是恒定的，改變?cè)囼?yàn)條件時(shí)按照確定的規(guī)律變化。重復(fù)測(cè)定不能發(fā)現(xiàn)和減少系統(tǒng)差，只有改變?cè)囼?yàn)條件才能發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差。測(cè)定結(jié)果與真實(shí)值偏離的程度越小，測(cè)定結(jié)果越正確，系統(tǒng)誤差就越小，一旦發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差，一定要找出原因，設(shè)法避免和校正。分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品性質(zhì)的不同、基體元素和分析元素之外的元素的干擾以及工作環(huán)境的變化均可能導(dǎo)致系統(tǒng)誤差。 由于在測(cè)試過(guò)程中，一系列的有關(guān)因素微小的隨機(jī)波動(dòng)而形成了具有相互抵償性的誤差，它決定了測(cè)定結(jié)果的精密度。在多次分析結(jié)果與真實(shí)含量比較，是向兩個(gè)不同方向偏離，這時(shí)的誤差稱(chēng)偶然誤差。偶然誤差有時(shí)大，有時(shí)小，有時(shí)正，有時(shí)負(fù)，但正負(fù)出現(xiàn)的機(jī)率基本相等，并且服從高斯分布定律。 隨著測(cè)定次數(shù)的增加，正負(fù)誤差相互抵償，誤差平均值趨向于零。產(chǎn)生偶然誤差的原因很多，比如說(shuō)樣品的成分不均勻、激發(fā)光源不穩(wěn)定等等，要完全清除偶然誤差是不可能的。但是通過(guò)誤差分析，找出產(chǎn)生大誤差的環(huán)節(jié)，采取措施，改進(jìn)分析方法，縮小偶然誤差是可能的。 這種誤差也可以稱(chēng)差錯(cuò)，顯然與事實(shí)不相符的誤差，沒(méi)有一定的規(guī)律性，是由操作不細(xì)心、不正確所造成。不管造成過(guò)失誤差的具體原因如何，只要確知存在過(guò)失誤差，就將會(huì)在一組測(cè)定值數(shù)據(jù)中以異常值舍棄之。 總而言之，在光電直讀光譜分析過(guò)程中，從取樣開(kāi)始到打印出分析數(shù)據(jù)，是由若干個(gè)操作環(huán)節(jié)組成的，每一環(huán)節(jié)都可能會(huì)產(chǎn)生一定的誤差。當(dāng)無(wú)過(guò)失誤差時(shí)(亦即正常操作中)，光譜分析的總誤差主要是系統(tǒng)誤差和偶然誤差的總和，便決定了光電直讀光譜分析方法的正確度。分析正確度包含兩方面內(nèi)容：即正確性和再現(xiàn)性。正確性表示分析結(jié)果與真實(shí)含量的接近程度，系統(tǒng)誤差小，正確性高；再現(xiàn)性(精密度)表示多次分析結(jié)果的離散程度，當(dāng)沒(méi)有系統(tǒng)誤差時(shí)或系統(tǒng)誤差比偶然誤差小得多時(shí)，精密度就等于正確度。直讀光譜儀的誤差分析
1、系統(tǒng)誤差
2、偶然誤差
3、過(guò)失誤差
技術(shù)知識(shí)